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复试大纲

考研复试大纲:沈阳建筑大学2018年材料学院硕士研究生招生考试复试大纲同等学力加试《材料分析测试技术》

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一、考查目标
 
本科目主要考查学生对X射线、电子显微等近代分析测试技术研究材料微观组织、结构及成分分析的基本原理、仪器构造和应用范围等的掌握,并能对测试结果进行科学分析。
 
二、考试形式与试卷结构
 
(一)试卷满分及考试时间
 
试卷满分为100分,考试时间为2小时。
 
(二)答题方式
 
闭卷、笔试。
 
(三)试卷内容结构
 
X射线分析理论基础:占20%
 
X射线衍射方法及衍射分析:占30%
 
TEM分析:占10%
 
SEM分析:占25%
 
其它材料分析测试技术:占15%
 
(四)试卷题型结构
 
名词解释:20%
 
简答题:50%
 
论述题:30%
 
三、考查内容及要求
 
(一)X射线分析理论基础
 
1.X射线的本质及x射线谱;
 
2.X射线与物质的相互作用;
 
3.X射线衍射与布拉格方程;
 
4.倒易点阵;
 
5.X射线衍射强度与结构因数的计算。
 
要求:掌握X射线物理学基础(X射线本质、X射线谱、X射线与物质相互作用);理解X射线运动学衍射理论,能够运用Ewald图解进行衍射分析,会进行衍射强度的计算,熟悉倒易点阵。
 
(二)X射线衍射方法及衍射分析
 
1.粉末照相法;
 
2.X射线衍射仪法;
 
3.物相的定性分析;
 
4.物相的定量分析;
 
5.X射线在材料测试分析方面的其他应用。
 
要求:掌握两种X射线衍射方法(粉末照相、多晶衍射仪法);了解晶体取向的测定方法及分析步骤;能够进行点阵常数的测定;掌握多晶体物相分析并进行相应的定量计算;掌握宏观应力的测定。
 
(三)TEM分析
 
1. 电子与物质的交互作用;
 
2. 透射电镜的结构及应用;
 
3. 电子衍射及结构分析;
 
4. 材料薄膜样品的制备与薄晶体样品的衍衬成像原理。
 
要求:掌握电子与物质相互作用理论。熟练掌握TEM结构、原理、样品制备、金属薄膜的衍射分析。
 
(四)SEM分析
 
1. 扫描电镜工作原理、构造和性能;
 
2.扫描电镜在材料研究中的应用。
 
要求:了解扫描电镜的基本结构和工作原理;熟练掌握扫描电镜在材料分析中的应用(表界面、断口分析)。
 
(五)其它材料分析测试技术
 
1.热分析及应用;
 
2.波谱仪及应用;
 
3.能谱仪及应用;
 
4.电子探针分析方法及微区成分分析技术。
 
要求: 掌握热分析技术,熟练掌握波谱仪和能谱仪以及电子探针分析方法。
 
四、考试用具说明
 
考试需携带计算器。
 
 
原文标题:2018年材料学院硕士研究生招生考试复试大纲
 
原文链接:http://grs.sjzu.edu.cn/info/1020/1987.htm
 
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